國內比較常用的兩種非接觸測量方法，一種是基於CCD器件接收光信號的測量方法，另一種是激光掃描測量方法。兩種方法各有各的優勢以及劣勢，下面讓我們來看看他們的基本工作原理。

第一種測量原理：CCD尺寸測量

CCD尺寸測量系統基本都由CCD像傳感器、光學系統、微機數據采集和處理系統組成，我們先來看一下采用CCD測量的基本原理：

線陣CCD平行光法進行非接觸測量的基本原理：將線陣CCD置於平行光路，被測物放於CCD前方光路中，射向CCD的光就被物體擋住一部分，因此CCD輸出的信號就有一個凹口。顯然，凹口的寬度與物體的尺寸有一一對應的關系，我們利用數字電路設計和計算機處理就很容易的得到凹口對應的CCD像元數，從而計算出被測物體的尺寸。但是我們也很容易的發現一個問題：這種測量方法要求CCD光敏區的長度大於被測物體的尺寸，而大尺寸的CCD特別昂貴，所以必須通過其他方法來實現光的接收。

CCD尺寸測量基本原理

顯然CCD接收法它具有一些獨特的一般機械式、光學式、電磁式測量儀無法比擬的優點，這與CCD本身的自掃描高分辨率高靈敏度結構緊湊位置準確的特性密切相關，其中關鍵的技術就是光學系統的設計和CCD輸出視頻信號的采集與處理，但是也存在著很多常見的問題，諸如結構復雜、成本高等缺點。下面讓我們來看一下，CCD測量的方法有哪些缺點：

(1)采用CCD接收然後轉換成數字信號的方法，測量的精度受限於CCD像元的大小!我們知道CCD像元不管哪個部位接收到光，都會將接收到的光信號轉化成電信號，從而制約了CCD測量方法的測量精度。當然我們也可以采用盡量小的CCD像元，使它的測量誤差盡量減小

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